半导体分立器件测试仪 型号:CS2935库号：M380093

半导体分立器件测试仪 型号:CS2935库号：M380093   

一、产品点:

测试晶种覆盖面广、测试精度高、电参数测试、速度快、有良好的重复和-一致、工作稳定，具有保护系统和被测器件的能力，且具有图示功能。测试仪由计算机操控，测试数据可存储打印。除具有点测试功能外，还具有曲线扫描功能( 图示仪功能)。系统软件功能、使用灵活方便、操作简单。系统软件稳定、硬件故障率低，在实际测试应用中各项指标均可达到器件手册指标二、测试参数:

1:二极管

VF、IR. BVR 随机附件

2.稳压 (齐纳)二极管

VF、IR、BVZ

3.晶体管

Transistor (NPN型/PNP型)

VBE、ICB0、LCE0、 IEB0、 BVCE0、 BWCBO、 BVEBO、 hFE. VCESAT.

VBESAT、VBEON

4.可控硅整流器 (晶闸管)

IGT、VGT、IH、 IL。VTM

5. 场效应管

IGSSF、IGSSR、 IGSSR、 IGSS. VDSON、 RDSON、 VGSTH、IDSS、IDON、 gFS. BVGSS .

6。光电耦合器

VF。IR、CTR、ICE0、 BVCE0、 VCESAT

7.三端稳压器

Vo、Sv. ID、IDV .及要求。