双棱镜干涉实验仪 型号:ZXTSLJ-Ⅰ

双棱镜干涉实验仪 型号:ZXTSLJ-Ⅰ库号：M356816  
观察光的干涉现象，一种分波前光路实验双光束干涉的方法；
用双棱镜干涉测量光波波长；
学会双棱镜干涉光路的共轴调节方法；4、学会用测WEI目镜测WEI小长度。
1、仪器的组成：双棱镜、可调狭缝、凸透镜、毛玻璃屏、测WEI目镜、半导体激光器、短焦距扩束透镜、光具座、滑座等；
2、采用导轨长度为1000mm；
3、测WEI目镜量程：8mm：15x.小读数：mm，测量度：＜mm；
4、可调狭缝，调节范围：0-5mm；
5、凸透镜：f=150mm；
6、波长为650nm半导体激光器；
7、带刻尺的滑座；
选配灯及白光光源